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Sphere-3000 反射率光谱分析仪
Sphere-3000 反射率光谱分析仪能快速准确地测量各类球⾯/⾮球⾯器件的相对/绝对反射率，适⽤于凸透镜、凹透镜、镜⽚等的镀膜表⾯反射率测量，还可进⾏有⼲涉条纹的单层膜厚或折射率测量，可应⽤于硅晶太阳能电池板纳⽶级膜厚检测。。
仪器特点
1. 消除背⾯反射光，⽆需进⾏背⾯防反射处理即可快速准确地测定表⾯反射率；
2. CIE颜色测定X Y色度图，x, y, L, a, b, 饱和度，主波长等；
3. 显微测定微小区域的反射率，物镜对焦于被测物微小区域(φ60μm)。
测试对象
技术参数
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