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单点反射测量支架是一个探头支架，用于厚度达150mm的光学层和其它基底的反射测量。

这一探头支架适于固定直径达6.35mm的光学探头和其它取样设备，可以在一个不锈钢支柱上上下滑行，调节高度可达63.5mm。

反射台是电镀台面，表面刻有同心圆以确定直径，用于放置圆形样品。

规格

尺寸（基座）:	直径为152.4mm
尺寸（样品区）:	直径为101.6mm*
重量:	620 g
高度:	垂直可调高度63.5mm

*指带有同心圆刻度的区域，用户也可利用整个基座的区域。